Wybrane aspekty pomiaru funkcji intensywności procesów niestacjonarnych w zakresie nano i pikosekundowych rozdzielczości systemu pomiarowego
Marek Zieliński
Dane szczegółowe: | |
Wydawca: | Uniwersytet Mikołaja Kopernika |
Oprawa: | miękka |
Ilość stron: | 116 s. |
EAN: | 9788323111832 |
ISBN: | 83-231-1183-9 |
Data: | 2001-01-29 |
Opis książki:
Niestacjonarne procesy stochastyczne o rozkładzie Poissona Systemy pomiaru funkcji intensywności procesów niestacjonarnych w technice nano i pikosekundowej (Systemy z bramką przesuwną * Systemy wielokanałowe *Systemy pomiarowe o rozdzielczości pikosekundowej)
Systemy pomiaru procesów o dużej dynamice zmian funkcji intensywności (Systemy o rozdzielczości nanosekundowej * Systemy o rozdzielczości pikosekundowej)
Główne źródła błędów w systemach pomiaru funkcji intensywności (Wpływ intensywności impulsów na proces zliczania * Wpływ intensywności impulsów zakłócających na proces zliczania * Wpływ niestabilności generatora wzorcowego na pomiar funkcji intensywności)
Błędy bramkowanych systemów zliczania impulsów
Metody redukcji i ograniczania błędów
Książka "Wybrane aspekty pomiaru funkcji intensywności procesów niestacjonarnych w zakresie nano i pikosekundowych rozdzielczości systemu pomiarowego" - Marek Zieliński - oprawa miękka - Wydawnictwo Uniwersytet Mikołaja Kopernika.