Podstawy pomiarów
Dane szczegółowe: | |
Wydawca: | Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej |
Rok wyd.: | 2019 |
Oprawa: | miękka |
Ilość stron: | 364 s. |
Wymiar: | 176x250 mm |
EAN: | 9788378148074 |
ISBN: | 978-83-7814-807-4 |
Data: | 2020-06-05 |
Opis książki:
Podręcznik został opracowany jako podstawowa pomoc dydaktyczna do przedmiotów Podstawy pomiarów i Metrologia wykładanych na Wydziale Elektroniki i Technik Informacyjnych Politechniki Warszawskiej. Ponieważ celem wykładu i laboratorium z tych przedmiotów jest nauczenie studentów technik eksperymentu oraz zasad funkcjonowania podstawowej aparatury pomiarowej, zdecydowano się na położenie nacisku na umiejętności zaplanowania eksperymentu, właściwy dobór aparatury pomiarowej, analizę niepewności pomiarowych oraz na krytyczne podejście do przeprowadzonego doświadczenia i uzyskanych wyników. Zwrócono także uwagę na różnice występujące między analogowymi i cyfrowymi metodami pomiarowymi.
Ponieważ aktualnie przedmioty Podstawy pomiarów i Metrologia są prowadzone na pierwszym lub drugim semestrze studiów, co powoduje, że studenci nie posiadają jeszcze wystarczającej wiedzy z teorii obwodów, matematyki czy układów elektronicznych, w podręczniku wprowadzano i szczegółowo wyjaśniano nowe dla nich pojęcia i zasady działania nieznanej aparatury. Przedstawione treści dotyczą głównie wiedzy poruszanej na wykładzie. Uzupełnieniem podręcznika jest zbiór instrukcji do wykonywania ćwiczeń dostępny w wersji elektronicznej.
Książka "Podstawy pomiarów" - praca zbiorowa - oprawa miękka - Wydawnictwo Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej. Książka posiada 364 stron i została wydana w 2019 r.