Modelowanie, diagnostyka i sterowanie nadrzędne procesami
Dane szczegółowe: | |
Wydawca: | WNT |
Rok wyd.: | 2009 |
Oprawa: | miękka |
Ilość stron: | 446 s. |
Wymiar: | 165x239 mm |
EAN: | 9788320436129 |
ISBN: | 978-83-2043-612-9 |
Data: | 2010-02-22 |
Opis książki:
W książce przedstawiono zaawansowane metody i algorytmy modelowania procesów dynamicznych, odkrywania wiedzy w bazach danych, budowy symulatorów, diagnostyki procesów i systemów oraz nadrzędnego sterowania, samostrojenia i adaptacji nastaw pętli regulacyjnych.
Opisane metody zostały zaimpletowane w oryginalnym w skali światowej systemie automatyki i diagnostyki- Dia Ster. Uniwersalność przyjętych rozwiązań w systemie daje możliwość jego szerokiego zastosowania między innymi w przemyśle energetycznym, chemicznym, farmaceutycznym czy spożywczym. Ze względu na otwartą architekturę możliwe jest połączenie systemy Dia Ster praktycznie z dowolnymi systemami automatyki.
Książka skierowana jest do studentów i doktorantów uczelni technicznych, zespołów badawczych zajmujących się kompleksową automatyzacją złożonych procesów przemysłowych. Ze względu na interdyscyplinarny charakter tematyki może zainteresować i zainspirować zarówno automatyków i informatyków, jak i projektantów technologii przemysłowych i specjalistów z zakresu inżynierii produkcji.
Książka "Modelowanie, diagnostyka i sterowanie nadrzędne procesami" - oprawa miękka - Wydawnictwo WNT. Książka posiada 446 stron i została wydana w 2009 r.